{"status":"OK","data":{"advertisement":{"id":272443,"title":"1.\tSpektrofotometr UV-Vis 1szt.\n2.\tSpektrometr FT-IR 1szt.","partial_offer_allowed":false,"publication_date":"2024-11-28","submission_deadline":"2024-12-06 23:59:59","planned_sign_date":null,"supplementary_orders":null,"terms_of_contract_change":null,"created_at":"2024-11-28 14:06:12","modified_at":"2024-12-07 00:00:12","contact_persons":[{"id":64107,"forename":"Ewa","surname":"D\u0105browska","phone_number":"500 276 346","email":"ewa.dabrowska@kabex-parczew.pl","created_by":null,"created_at":"2025-05-28 10:42:45","modified_at":"2025-05-28 10:42:45","modified_by":null}],"orders":[{"id":440706,"estimated_value":null,"order_items":[{"id":496758,"description":"Przedmiotem zam\u00f3wienia jest : \n\n1.\tSpektrofotometr UV-Vis 1szt.\n2.\tSpektrometr FT-IR 1szt.\n\nSPECYFIKACJA \n\n1.\tSpektrofotometr UV-Vis - dwuwi\u0105zkowy, skanuj\u0105cy spektrofotometr UV-Vis pracuj\u0105cy w zakresie spektralnym 190-1100 nm z oprogramowaniem steruj\u0105cym\n\n\u2022\tSkanuj\u0105cy spektrofotometr UV-Vis pracuj\u0105cy w zakresie spektralnym 190-1100 nm, posiadaj\u0105cy dwa gniazda pomiarowe umo\u017cliwiaj\u0105ce jednoczesny pomiar pr\u00f3bki i odno\u015bnika, przystosowany do analizy tworzyw sztucznych\n\u2022\tOddzielna komora dla pr\u00f3by odniesienia.\n\u2022\tZmienna szczelina spektralna co najmniej 1 nm i 2 nm z systemem zmiennej geometrii wi\u0105zki umo\u017cliwiaj\u0105cej optymalne dopasowanie do:\n\uf02d\tpomiar\u00f3w w mikrokuwetach - prostok\u0105tna o wymiarach nie wi\u0119kszych ni\u017c 0,35x1,8 mm (SBW: 2 nm),\n\uf02d\tpomiar\u00f3w przy pomocy sond \u015bwiat\u0142owodowych - okr\u0105g\u0142a o \u015brednicy ok. 1 mm (SBW: 4,5 nm),\n\uf02d\tpomiar\u00f3w odbiciowych cia\u0142 sta\u0142ych - okr\u0105g\u0142a o \u015brednicy ok. 3,5 mm \u015brednicy (SBW: 15 nm) \u2013 z zastosowaniem sfery integruj\u0105cej.\n\u2022\tMonochromator typu Czerny Turnera.\n\u2022\tSzybko\u015b\u0107 przesuwu monochromatora co najmniej 31 000 nm/min.\n\u2022\tMo\u017cliwo\u015b\u0107 pomiar\u00f3w z otwart\u0105 komor\u0105 pomiarow\u0105.\n\u2022\t\u0179r\u00f3d\u0142o \u015bwiat\u0142a - pulsacyjna lampa ksenonowa obj\u0119ta co najmniej 3-letni\u0105 gwarancj\u0105. Lampa uruchamiana tylko podczas pomiaru pr\u00f3bki.\n\u2022\tDiagnostyka systemu przy ka\u017cdorazowym w\u0142\u0105czeniu.\n\u2022\tWbudowane funkcje walidacyjne i funkcje automatycznego sprawdzania poprawno\u015bci dzia\u0142ania sprz\u0119tu.\n\u2022\tWbudowany port umo\u017cliwiaj\u0105cy pod\u0142\u0105czenie lampy rt\u0119ciowej do kalibracji i sprawdzania dok\u0142adno\u015bci i powtarzalno\u015bci d\u0142ugo\u015bci fali.\n\u2022\tWymienny modu\u0142 detektora. Mo\u017cliwo\u015b\u0107 pracy z akcesoriami posiadaj\u0105cymi w\u0142asne zintegrowane detektory.\n\u2022\tAutomatyczne wykrywanie i rejestracja przystawek (przystawki typu plug and play).\n\u2022\tSzybko\u015b\u0107 skanowania zmienna w zakresie co najmniej od 1 do 6 000 nm/min.\n\u2022\tRozdzielczo\u015b\u0107 cyfrowa - mo\u017cliwo\u015b\u0107 ustawienia co najmniej: 0,1; 0,2; 0,5; 1, 2, 5, 10 nm.\n\u2022\tZakres fotometryczny co najmniej od -0,3 do 4 Abs.\n\u2022\tDok\u0142adno\u015b\u0107 d\u0142ugo\u015bci fali nie gorsza ni\u017c \u00b10,5 nm.\n\u2022\tPowtarzalno\u015b\u0107 d\u0142ugo\u015bci fali nie gorsza ni\u017c \u00b10,05 nm.\n\u2022\tDok\u0142adno\u015b\u0107 fotometryczna nie gorsza ni\u017c \u00b10,004 Abs przy 1.0 Abs.\n\u2022\tPowtarzalno\u015b\u0107 fotometryczna nie gorsza ni\u017c \u00b10,0002 Abs.\n\u2022\tStabilno\u015b\u0107 fotometryczna nie gorsza ni\u017c 0,0005 Abs/h.\n\u2022\t\u015awiat\u0142o rozproszone poni\u017cej 0,05% przy 340 nm.\n\u2022\tP\u0142asko\u015b\u0107 linii bazowej nie gorsza ni\u017c \u00b10.001 Abs.\n\u2022\tOdczyt wyniku co najmniej do 4-go miejsca po przecinku (0,0001).\n\u2022\tSterowanie aparatu za pomoc\u0105 zewn\u0119trznego komputera pracuj\u0105cego w \u015brodowisku Windows (lub r\u00f3wnowa\u017cny).\n\u2022\tW zestawie z aparatem oprogramowanie na komputer umo\u017cliwiaj\u0105ce sterowanie prac\u0105 spektrofotometru:\n\uf02d\tpracuj\u0105ce w \u015brodowisku Windows 10 lub nowszym (lub r\u00f3wnowa\u017cny),\n\uf02d\toprogramowanie w j\u0119zyku polskim,\n\uf02d\twymagane jest, aby oprogramowanie mog\u0142o by\u0107 zainstalowane na dowolnej liczbie komputer\u00f3w opr\u00f3cz komputera steruj\u0105cego, umo\u017cliwiaj\u0105c obr\u00f3bk\u0119 danych niezale\u017cnie od wykonywanego eksperymentu,\n\uf02d\tdostarczone na no\u015bniku, np. pami\u0119ci przeno\u015bnej typu pendrive.\n\uf02d\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 bezp\u0142atnej aktualizacji oprogramowania dost\u0119pnej na stronie producenta,\n\uf02d\toprogramowanie oparte na skoroszytach obejmuj\u0105cych co najmniej zestaw nast\u0119puj\u0105cych element\u00f3w:\n\uf0d8\tparametry pomiarowe aparatu,\n\uf0d8\tkonfiguracj\u0119 akcesori\u00f3w do pomiaru,\n\uf0d8\tinformacj\u0119 o pr\u00f3bkach,\n\uf0d8\tinformacj\u0119 o kalibracji w analizie ilo\u015bciowej,\n\uf0d8\twyniki pomiaru pr\u00f3bek,\n\uf0d8\tkonfiguracj\u0119 raportu z przeprowadzonych pomiar\u00f3w.\n\u2022\tFunkcje oprogramowania, co najmniej: \n\uf02d\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 pracy w trybie absorbancji, transmitancji, intensywno\u015bci,\n\uf02d\tpomiary przy sta\u0142ej d\u0142ugo\u015bci fali z cyfrowym i graficznym wy\u015bwietleniem wynik\u00f3w i mo\u017cliwo\u015bci\u0105 ustawienia kryteri\u00f3w tolerancji wynik\u00f3w,\n\uf02d\tpomiar i obr\u00f3bka widma z wy\u015bwietlaniem wynik\u00f3w w trybie Abs, %T, log A, log (1/R), intensywno\u015b\u0107, %R, Kubelka - Munk; z wyszukiwaniem charakterystycznych punkt\u00f3w widma - maksim\u00f3w i minim\u00f3w, przej\u015b\u0107 przez zero; wykonywaniem podstawowych operacji arytmetycznych na widmach: dodawanie, odejmowanie, dzielenie, mno\u017cenie; wyznaczanie pochodnych, wyg\u0142adzanie; z funkcjami wyznaczania wysoko\u015bci pasma i pola powierzchni; z funkcj\u0105 oceny koloru co najmniej: w skalach XYZ, xyY, L*a*b*, L*C*h* dla zakresu podstawowego 400-700nm, rozszerzonego 380-780 nm oraz pe\u0142nego 360-830 nm, z mo\u017cliwo\u015bci\u0105 wyboru o\u015bwietlenia A, C, D65 i k\u0105ta obserwacji 2\u00b0 i 10\u00b0;\n\uf02d\tpomiary ilo\u015bciowe z krzywymi kalibracji (1., 2. i 3. stopnia z wymuszeniem przej\u015bcia przez zero lub nie), z podawaniem wsp\u00f3\u0142czynnika korelacji, z wyborem do trzech powt\u00f3rze\u0144 dla ka\u017cdego wzorca, z mo\u017cliwo\u015bci\u0105 wy\u0142\u0105czenia wybranych pomiar\u00f3w wzorc\u00f3w i zmian\u0105 dopasowania krzywej, z wykonywaniem oblicze\u0144 na wynikach przy u\u017cyciu wbudowanego edytora r\u00f3wna\u0144,\n\uf02d\tpomiary kinetyczne z pomiarem reakcji w segmentach z ro\u017cnymi czasami i r\u00f3\u017cn\u0105 cz\u0119stotliwo\u015bci\u0105 pr\u00f3bkowania, funkcjami dopasowania danych dla reakcji zerowego, pierwszego i drugiego rz\u0119du oraz analiz\u0105 danych w wybranych segmentach,\n\uf02d\tpomiar w czasie rzeczywistym bez konieczno\u015bci wyzwalania pomiaru,\n\uf02d\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 wydruk\u00f3w raport\u00f3w zdefiniowanych przez u\u017cytkownika,\n\uf02d\teksport wynik\u00f3w co najmniej w formatach XML, CSV i TSV.\n\u2022\tW zestawie z aparatem co najmniej:\n\uf02d\t2 uchwyty na kuwety prostok\u0105tne o d\u0142ugo\u015bci drogi optycznej do 10 mm (jeden dla pr\u00f3bki, drugi dla odno\u015bnika), \n\uf02d\tkuwety kwarcowe o d\u0142ugo\u015bci drogi optycznej 10 mm z teflonow\u0105 przykrywk\u0105, o pojemno\u015bci 3.5 ml, umo\u017cliwiaj\u0105ce prac\u0119 w zakresie spektralnym 190 - 2500 nm (2 szt.),\n\uf02d\tsfera integruj\u0105ca wyposa\u017cona we w\u0142asny detektor, pozwalaj\u0105ca na pomiary zar\u00f3wno odbiciowe jak i transmisyjne o parametrach co najmniej:\n\u2022\t\u015brednica kuli 60 mm,\n\u2022\twn\u0119trze sfery nie ulegaj\u0105ce degradacji w czasie, nie ulegaj\u0105ce \u017c\u00f3\u0142kni\u0119ciu: pokryte materia\u0142em typu Spectralon (lub r\u00f3wnowa\u017cny),\n\u2022\tzakres pomiarowy co najmniej 220-1100 nm,\n\u2022\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 prowadzenia pomiar\u00f3w z w\u0142\u0105czeniem i wy\u0142\u0105czeniem sk\u0142adowej zwierciadlanej,\n\u2022\twyposa\u017cona w uchwyt na kuwety prostok\u0105tne o d\u0142ugo\u015bci drogi optycznej do 50 mm do pomiaru pr\u00f3bek ciek\u0142ych,\n\u2022\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 doposa\u017cenia w uchwyt do odbiciowych pomiar\u00f3w materia\u0142\u00f3w sypkich, proszk\u00f3w,\n\uf02d\tuchwyt umo\u017cliwiaj\u0105cy pomiary transmisyjne cia\u0142 sta\u0142ych (p\u0142ytki, filtry, folie) o r\u00f3\u017cnych kszta\u0142tach (okr\u0105g\u0142e, prostok\u0105tne) i r\u00f3\u017cnych rozmiarach, wbudowane w uchwyt mocowania magnetyczne umo\u017cliwiaj\u0105ce pomiary cienkich folii, w zestawie co najmniej 5 pask\u00f3w magnetycznych o r\u00f3\u017cne aperturze; uchwyt zlokalizowany po stronie detektora, z mo\u017cliwo\u015bci\u0105 regulacji odleg\u0142o\u015bci pr\u00f3bki od detektora,\n\uf02d\twsp\u00f3\u0142pracuj\u0105ca ze spektrofotometrem jednostka steruj\u0105ca o parametrach co najmniej: procesor klasy Intel i5 (lub r\u00f3wnowa\u017cny) (min. 3.4 GHz, 6-rdzeniowy), 16GB RAM, dysk SSD 256GB lub HDD 1TB SATA (lub r\u00f3wnowa\u017cny), 4 x port USB, DVD-RW, system operacyjny Windows 11 Pro (lub r\u00f3wnowa\u017cny), klawiatura i mysz optyczna, monitor co najmniej 21\" LCD\n\uf02d\toprogramowanie do oznaczania parametr\u00f3w badanych materia\u0142\u00f3w (obliczenia wykonywane zar\u00f3wno w oparciu o pomiary transmisyjne jak i pomiary odbiciowe), co najmniej:\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynniki ochrony przeciws\u0142onecznej wg COLIPA, AS/NZS,\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynniki ochrony (UV, NIR),\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynnik przepuszczalno\u015bci \u015bwiat\u0142a \u03c4v i wsp\u00f3\u0142czynnik odbicia \u015bwiat\u0142a \u03c1v zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050,\n\u2022\tg\u0142\u00f3wny wska\u017anik wyra\u017cania barwy Ra zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050,\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynnik przepuszczalno\u015bci promieniowania ultrafioletowego \u03c4uv zgodnie z PN-EN 410, ISO 9050,\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynniki przepuszczalno\u015bci wg EN, ANSI, JIST itp.,\n\u2022\tocena barwy/koloru XYZ, xyY, Lab* oraz LCh, r\u00f3\u017cne k\u0105ty obserwacji,\n\u2022\tr\u00f3\u017cne iluminanty zgodnie z CIE/DIN/ASTM,\n\u2022\tr\u00f3\u017cnica barwy wg DIN 6174, CMC,\n\u2022\tocena koloru wg Farmakopei Europejskiej,\n\u2022\toznaczenia w skalach Apha/Hazen, Gardner, Iodine,\n\u2022\tindeksy bieli i za\u017c\u00f3\u0142cenia wg ASTM,\n\u2022\twsp\u00f3\u0142czynniki oceny wg DIN (Q-factor) i British Rail,\n\u2022\tmo\u017cliwo\u015b\u0107 wprowadzania przez U\u017cytkownika w\u0142asnych metod obliczeniowych,\n\u2022\tzapis wynik\u00f3w w formacie: CSV, JCAMP\n\uf02d\tkabel zasilaj\u0105cy,\n\uf02d\tkabel do komunikacji z komputerem.\n\nWymagania dodatkowe: SZCZEG\u00d3\u0141OWY OPIS W ZA\u0141\u0104CZNIKU.\n\n\n2.\tSpektrometr FT-IR do identyfikacji polimer\u00f3w\n\n1.\tZakres spektralny co najmniej 8 000 \u2013 350 cm-1\n2.\tMaksymalna rozdzielczo\u015b\u0107 optyczna lepsza ni\u017c 0,5 cm-1\n3.\tRozdzielczo\u015b\u0107 zmienna w zakresie co najmniej 0,5 \u2013 32 cm-1\n4.\tZakres dynamiczny przetwornika ADC - 24 bity\n5.\tSzczelny i osuszany uk\u0142ad optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielaj\u0105cymi opty-k\u0119 od przedzia\u0142u pr\u00f3bek\n6.\tPod\u0142\u0105czenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedzia\u0142u pr\u00f3bek osuszonym gazem \n7.\tInterferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystuj\u0105cy wi\u0105zk\u0119 lasera, padaj\u0105c\u0105 na tr\u00f3jpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego wzgl\u0119dnego po\u0142o\u017cenia k\u0105towego zwierciade\u0142 interferometru\n8.\tUk\u0142ad optyczny wykorzystuj\u0105cy monolityczne lustra wzorcowe \n9.\tOgniskowanie wi\u0105zki centralnie w komorze pomiarowej aparatu\n10.\tCeramiczne trwa\u0142e \u017ar\u00f3d\u0142o promieniowania IR\n11.\tBeamsplitter Ge/KBr\n12.\tDetektor DLaTGS\n13.\tPasek LED - wizualizuj\u0105cy stan pomiaru i stan aparatu (w tym pokazuj\u0105cy skanowanie, stan inteligetnego t\u0142a, wizualne zobrazowanie poziomu dopasowania przy identyfikacji)\n14.\tLaser p\u00f3\u0142przewodnikowy o stabilnej d\u0142ugo\u015bci fali promieniowania zapewniaj\u0105cy precyzj\u0119 liczb falowych nie gorsz\u0105 ni\u017c +/- 0,001 cm-1\n15.\tKomunikacja spektrometru z komputerem przez z\u0142\u0105cze \n16.\tAutomatyczne rozpoznawanie przez system akcesori\u00f3w pomiarowych takich jak modu\u0142 do pomiar\u00f3w transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne\n17.\tSystem osuszania optyki z wk\u0142adami osuszaj\u0105cymi w metalowej obudowie z mo\u017cliwo\u015bci\u0105 regeneracji w suszarce. Wymiana wk\u0142ad\u00f3w osuszaj\u0105cych bez zdejmowania obudowy aparatu. Wska\u017anik poziomu wilgotno\u015bci na wierzchu aparatu. Nie dopuszcza si\u0119 system\u00f3w osuszania wymagaj\u0105cych pod\u0142\u0105czenia aparatu do sieci elektrycznej.\n18.\tZestaw automatycznej weryfikacji osi\u0105g\u00f3w (SPV) do monitorowana stanu systemu zapewniaj\u0105cy diagnostyk\u0119 element\u00f3w spektrometru i testy osi\u0105g\u00f3w we normy ASTM E1421 \n19.\tWbudowana na sta\u0142e w aparat automatyczna przystawka do ....\n\nWymagania dodatkowe: SZCZEG\u00d3\u0141OWY OPIS W ZA\u0141\u0104CZNIKU.","warranty_period":null,"cpv_items":[{"id":4449,"code":"38433000-9","name":"Spektrometry"}],"timetable_items":[],"fulfillment_places":[{"country":"Polska","voivodeship":"lubelskie","poviat":"parczewski","commune":"Parczew","locality":"Parczew","created_by":null,"created_at":"2024-11-28 14:06:12","modified_at":"2024-11-28 14:22:25","modified_by":null,"id":559577,"type":{"id":1,"name":"adres"},"group_uuid":"676d4d9d-5bf6-4389-94bb-330d6152c8ba"}],"participation_conditions":[],"category":{"id":3,"name":"Dostawa"},"subcategory":{"id":15,"name":"Dostawy inne"},"created_by":null,"created_at":"2024-11-28 14:06:12","modified_at":"2024-11-28 14:22:25","modified_by":null,"group_uuid":"f94d890a-6444-437a-a3e6-a04468e08c61"}],"evaluation_criteria":[{"id":766741,"price_criterion":true,"description":"\u201eCena\u201d - (waga 100%) - (C) zostanie obliczona wg wzoru:\n\nC = Co / Cb x 100 pkt.\n\nC - ilo\u015b\u0107 punkt\u00f3w badanej ceny oferty.\nCo - cena brutto oferty najni\u017cszej spo\u015br\u00f3d zaproponowanych w ofertach.\nCb - cena brutto oferty badanej.","created_by":null,"created_at":"2024-11-28 14:06:44","modified_at":"2024-11-28 14:22:25","modified_by":null,"group_uuid":"a60a4eb7-f7d3-4149-9416-9b6c99daa60c"}],"is_variant":false,"title":"1.\tSpektrofotometr UV-Vis 1szt. 2.\tSpektrometr FT-IR 1szt.","order_node":{"id":333862},"created_by":null,"created_at":"2024-11-28 14:06:12","modified_at":"2024-11-28 14:22:25","modified_by":null}],"created_by":{"id":64158,"contact_persons":[]},"modified_by":{"modified_by":null,"id":1,"contact_persons":[]},"status":{"id":2,"label":"PUBLISHED","name":"Opublikowane"},"advertiser_address_details":{"name":"\"KABEX\" ZPH DAMIAN D\u0104BROWSKI","identification_number_type":"nip","identification_number":"5391179915","address":{"country":"Polska","voivodeship":"lubelskie","poviat":"parczewski","commune":"Parczew","locality":"Parczew","created_by":null,"created_at":null,"modified_at":null,"modified_by":null,"id":743258,"street":"Polna","number_description":"71","postcode":"21-200"},"created_by":{"id":64158,"contact_persons":[]},"created_at":"2024-11-28 14:06:11","modified_at":"2024-11-28 14:06:11","modified_by":{"id":64158,"contact_persons":[]},"id":273081},"advertisement":{"id":206904,"number":"2024-64158-206904","publication_date":"2024-11-28","created_by":{"id":64158,"contact_persons":[]},"created_at":"2024-11-28 14:06:11","modified_at":"2024-12-07 00:00:12","modified_by":{"modified_by":null,"id":1,"contact_persons":[]},"status":{"id":6,"label":"RESOLVED","name":"Rozstrzygni\u0119te"},"all_available_version_ids":[272443],"enrollment":null,"projects":[{"id":43766,"name":"Centrum Badawczo-Rozwojowe Kabex","number":"0010/23","activity":{"created_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]},"created_at":"2023-02-23 14:46:32","modified_at":"2023-02-23 14:46:32","modified_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]}},"region":null,"institution":{"created_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]},"created_at":"2023-03-15 12:54:56","modified_at":"2023-03-15 12:54:56","modified_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]}},"full_number":"FELU.01.02-IP.01-0010/23","perspective":{},"programme":{"created_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]},"created_at":"2023-02-23 14:44:31","modified_at":"2023-02-23 14:44:31","modified_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]}},"priority":{"created_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]},"created_at":"2023-02-23 14:44:48","modified_at":"2023-02-23 14:44:48","modified_by":{"modified_by":null,"id":89,"contact_persons":[]}},"type":"project","created_by":{"id":64158,"contact_persons":[]},"created_at":"2024-02-01 13:49:04","modified_at":"2024-02-01 13:49:04","modified_by":{"id":64158,"contact_persons":[]}}],"is_author":false,"is_admin":false},"attachments":[{"origin":{"id":272443,"publication_date":"2024-11-28"},"id":1530411,"name":"Za\u0142\u0105czniki do zapytania ofertowego","file":{"id":1705065,"name":"Za\u0142\u0105czniki do zapytania of.docx","created_at":"2024-11-28 14:07:46","created_by":{"forename":"Ewa","surname":"D\u0105browska"},"uri":"/api/files/1705065"},"group_uuid":"db27f2b0-7ecf-4118-b222-6e8d5f4fe23f"},{"origin":{"id":272443,"publication_date":"2024-11-28"},"id":1530488,"name":"Zapytanie of_spektrometry","file":{"id":1705122,"name":"Zapytanie of_spektrometry.pdf","created_at":"2024-11-28 14:22:10","created_by":{"forename":"Ewa","surname":"D\u0105browska"},"uri":"/api/files/1705122"},"group_uuid":"6f8adb0c-fd43-4d1e-abb9-87d3cbc26653"}]},"dictionaries":{"announcement_status_draft":1,"announcement_status_published":2},"favorite":null,"badge":null,"offer_set_badge_count":null,"question_badge_count":null}}